Low-frequency noise in GaAs Schottky-gate f.e.t.s.

Measurements of the low-frequency noise in GaAs Schotty-gate f.e.t. channels have been performed from 10 Hz to 0.5 MHz between ?120 and +21 °C. Diffusion and recombination noise sources appear to be predominant at low temperatures for low-power-level conditions. Nous avons entrepris la mesure du bruit basse fréquence prenant naissance dans le canal des f.e.t. à l'arséniure de gallium pour des fréquences allant de 10 Hz à 0. 5 MHz et une température comprise entre ?120 et +21 °C. Nous avons mis en évidence que pour de faibles puissances dissipées les sources de bruit principales à basse température ont pour origine des phénomènes de diffusion et de génération recombinaison.