| 前向大角度法测量亚微米级颗粒 |
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| 引用本文： | 韩鹏,杨冠玲,何振江.前向大角度法测量亚微米级颗粒[J].中国粉体技术,2005,11(Z1):67-75. |
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| 作者姓名： | 韩鹏 杨冠玲 何振江 |
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| 作者单位： | 韩鹏（华南师范大学,物理与电信工程学院,广东,广州,510631）
杨冠玲（华南师范大学,物理与电信工程学院,广东,广州,510631）
何振江（华南师范大学,物理与电信工程学院,广东,广州,510631） |
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| 摘 要： | 采用Mie散射理论,分析了亚微米级颗粒散射光角度分布特征,研究了粒径、折射率等参数对散射光分布特点的影响.研究发现,将散射光强度的角度分布进行归一化后,前向30°部分范围内的分布特性近似为线性,且呈现斜率与颗粒粒径相关,而与折射率无关的特点.在此基础上,本文中提出一种新的测量方法--前向大角度法,即通过测量散射光在前向30°范围内的光强线性变化的斜率来直接得到亚微米级颗粒的平均粒径.文中讨论了该方法的适用范围、近似表达式、误差分析等.
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| 关 键 词： | 前向大角度法 颗粒测量 亚微米 |
Forward-Scattering Large-angle Approach for zing b-Micron Particles |
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