首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

GexC1—x薄膜在红外增透保护模系设计和制备中的应用
引用本文:宋建全 刘正常. GexC1—x薄膜在红外增透保护模系设计和制备中的应用[J]. 红外与毫米波学报, 2000, 19(4): 266-268
作者姓名:宋建全 刘正常
作者单位:西北工业大学材料科学与工程学院,陕西,西安,710072
基金项目:航空基金,93G53120,
摘    要:用磁控反应溅射(RS)法制备出GexC1-x薄膜,它的折射率可在1.6~4.0之间变化,设计出没厚度的GexC1-x均匀增透膜 非均匀增透膜系,并在ZnS基片上制备出GexC1-x均匀增膜系,设计结果表明,均匀膜系实现某-波段范围内增透,非均匀膜系能实现宽波段增透;当厚度增加时,均匀增透膜系的透过率曲线变得急剧振荡,非均匀膜系的透过率曲线变得更为平滑,且向长波段扩展,实现结果表明,在8~11.5μ

关 键 词:薄膜 射频磁控反溅射 红外增透保护膜系

APPLICATION OF GexC1-xFILMS TO DESIGN AND DEPOSITION OF INFRARED ANTIREFLECTION AND PROTECTION FILMS
SONG Jian-Quan,LIU Zheng-Tang,YU Zhong-Qi,GENG Dong-Sheng,ZHENG Xiu-Lin. APPLICATION OF GexC1-xFILMS TO DESIGN AND DEPOSITION OF INFRARED ANTIREFLECTION AND PROTECTION FILMS[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2000, 19(4): 266-268
Authors:SONG Jian-Quan  LIU Zheng-Tang  YU Zhong-Qi  GENG Dong-Sheng  ZHENG Xiu-Lin
Abstract:
Keywords:Ge_xC_(1-x)films   RF magnetron reactive sputtering   films design   infrared antireflective and protective films.
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号