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| 硅粉及氯化亚铜的X-射线光电子能谱分析 | |
| 引用本文： | 陈传正,李少羽,康秉杰.硅粉及氯化亚铜的X-射线光电子能谱分析[J].合成橡胶工业,1984(2). |
| 作者姓名： | 陈传正 李少羽 康秉杰 |
| 作者单位： | 吉林化学工业公司研究院 (陈传正，李少羽)，吉林化学工业公司研究院(康秉杰) |
| 摘 要： | 本工作用X-射线光电子能谱(XPS)分析法对有机硅单体合成用的原料硅粉及氯化亚铜催化剂细微颗粒表面元素的化学状态进行了考察,确认影响硅粉转化率的重要因素是由于氧化作用导致的硅粉表面Si(0)原子的减少和氯化亚铜微粒表面Cu(I)含量的降低。提出了防止氧化的建议。该法可用于有机硅单体合成原料的质量鉴定。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |