|
|||||
|
|
| Ga_(1-x)Al_xAs外延层的X射线双晶衍射 | |
| 作者姓名： | 楼枚 |
| 摘 要： | 用X射线双晶衍射法测定了在GaAs衬底的(001),(110),(111)和(113)方向上生长的Ga_(1-x)Al_xAs外延层的应力状态。算进了立方晶胞化合物的各向异性的弹力以后,测定了松弛晶格常数以及外延层的组分。本文提出了Ga_(1-x)Al_xAs/GaAs双异质结构的双晶旋转曲线。它们允许非破坏性地、独立地确定激光结构的两个Ga_(1-x)Al_xAs外延层的铝含量,并且 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |