| 污秽分布对陶瓷XP-70与玻璃LXP-70绝缘子放电影响的实验研究 |
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| 引用本文： | 梁伟,高嵩,周志成,张照辉,吴广宁,程川,戈灏,朱孟周. 污秽分布对陶瓷XP-70与玻璃LXP-70绝缘子放电影响的实验研究[J]. 电瓷避雷器, 2019, 0(1) |
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| 作者姓名： | 梁伟 高嵩 周志成 张照辉 吴广宁 程川 戈灏 朱孟周 |
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| 作者单位： | 国网江苏省电力公司电力科学研究院 南京211103;西南交通大学,成都,610031 |
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| 基金项目： | 国家电网有限公司总部科技项目 |
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| 摘 要： | 基于绝缘子污秽分布的非连续特征,开展了非连续污秽分布对陶瓷XP-70与玻璃LXP-70绝缘子交/直流放电影响的实验研究。首先,基于紫外脉冲原理搭建了污秽绝缘子放电紫外脉冲检测系统。在此基础上,研究了非连续污秽分布对绝缘子交/直流放电紫外脉冲与泄漏电流的影响特性。试验结果表明:非连续污秽分布下陶瓷绝缘子交流放电紫外脉冲数高于全污秽绝缘子放电紫外脉冲数。全污秽陶瓷绝缘子直流放电紫外脉冲数明显高于其它污秽分布下绝缘子放电紫外脉冲数。玻璃绝缘子不同污秽分布下交/直流放电紫外脉冲数在不同电压等级下表现出较大差异。一般情况下,全污秽绝缘子泄漏电流高于非连续污秽分布绝缘子泄漏电流,洁净绝缘子泄漏电流小于污秽绝缘子泄漏电流,不同干带污秽绝缘子泄漏电流表现出差异化。绝缘子污秽非连续分布对泄漏电流表征污秽程度产生偏差,在实际中,可结合绝缘子放电紫外脉冲与泄漏电流检测综合评估绝缘子污秽程度。
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| 关 键 词： | 污秽分布 非连续 干带 紫外脉冲 泄漏电流 |
Experimental Study of Pollution Distribution Effect on Porcelain XP-70 and Glass LXP-70 Insulator Discharge |
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