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基于量子化霍尔电阻考核的国家电阻基准的稳定性
引用本文:邵海明,张钟华,梁波,贺青,侯小京,林飞鹏,李正坤,王昊.基于量子化霍尔电阻考核的国家电阻基准的稳定性[J].计量学报,2007,28(2):97-101.
作者姓名:邵海明  张钟华  梁波  贺青  侯小京  林飞鹏  李正坤  王昊
作者单位:1. 中国计量科学研究院,北京,100013;天津大学,天津,300072
2. 中国计量科学研究院,北京,100013
3. 中国测试技术研究院,四川,成都,610021
摘    要:报告了自1990年以来通过与量子化霍尔电阻比对考核的国家直流电阻(实物)基准的长期漂移率及偏差。结果表明2001年以来,国家直流电阻(实物)副基准的漂移率为-0.0551μΩ/a,主基准的漂移率为-0.0808μΩ/a;2006年10月25日,国家直流电阻(实物)基准复现的电阻量值较量子化霍尔电阻的相对偏差为+0.677mm,预计2007年1月1日需要修正-0.69μΩ/a。

关 键 词:计量学  电阻基准  漂移率  量子化霍尔电阻  气压系数
文章编号:1000-1158(2007)02-0097-05
修稿时间:2006年10月10

Stability Research of National Artifact Resistance Standards Based on Quantum Hall Resistance
SHAO Hai-ming,ZHANG Zhong-hua,LIANG Bo,HE Qing,HOU Xiao-jing,LIN Fei-peng,LI Zheng-kun,WANG Hao.Stability Research of National Artifact Resistance Standards Based on Quantum Hall Resistance[J].Acta Metrologica Sinica,2007,28(2):97-101.
Authors:SHAO Hai-ming  ZHANG Zhong-hua  LIANG Bo  HE Qing  HOU Xiao-jing  LIN Fei-peng  LI Zheng-kun  WANG Hao
Abstract:
Keywords:Metrology  Resistance standard  Drift  Quantum Hall resistance(QHR)  Atmospheric pressure coefficient(APC)
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