| 水热法制备的ZnO纳米线的微结构、光学性质以及光学模型（英文） |
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| 作者姓名： | 朱宪安 王泉 石永敬 宋世庚 刘卫国 周顺 Des GIBSON Yahya ALAJLANI 李成 |
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| 作者单位： | 1. Institute of Thin Films, Sensors and Imaging, University of the West of Scotland;2. 西安工业大学光电工程学院;3. 重庆科技学院冶金与材料工程学院;4. Department of Physics, Faculty of Science, Jazan University;5. 长春工程学院能源动力工程学院 |
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| 摘 要： | 在90°C的温度环境下,采用水热化学沉积法制备Zn O纳米线薄膜,然后用扫描电子显微镜、透射光谱和X射线衍射等技术对所制备的纳米薄膜进行表征。结果表明,制备的纳米Zn O薄膜的光学带隙在3.274到3.347 e V之间。调节p H值可以控制膜的孔隙率和显微结构。SEM照片清楚地显示两层结构,且这两层的空隙率不同。XRD结果显示(002)取向的优先生长。针对纳米结构的Zn O薄膜建立一个完整的光学模型,包括Bruggeman有效介质近似、粗糙表面的光散射和O’Leary-Johnson-Lim带间吸收模型。利用此光学模型,拟合实验测量的纳米结构Zn O薄膜的透射光谱,拟合结果同实验结果具有很高的一致性。
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| 关 键 词： | ZnO 纳米线 水热制备 光学模型 |
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