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一种用于天线近场测试的波束控制系统设计方法
作者姓名:
周云
张启帆
周一帆
摘 要:
随着高性能天线的快速发展,对天线性能的要求也越来越高,这也对天线的测量带来了许多挑战。文章设计了一种用于暗室天线近场测量的波束控制系统,通过对该波束控制系统的搭建实现了对天线的快速近场测量,并在测试过程中能够实现多频点多波位同时测量。该系统不仅大大提升了天线测试的效率,而且保证了测量数据的准确性与可靠性。
关 键 词:
天线测试
波束控制
多波位
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