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溅射工艺及底层对SmCo薄膜磁性能的影响
引用本文:张峰 黄致新 王辉 吴斌 杨晓非 程伟明. 溅射工艺及底层对SmCo薄膜磁性能的影响[J]. 功能材料, 2007, 38(A03): 1077-1079
作者姓名:张峰 黄致新 王辉 吴斌 杨晓非 程伟明
作者单位:[1]华中师范大学物理科学与技术学院,湖北武汉430079 [2]华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉430074
基金项目:湖北省自然科学基金资助项目(2005ABA041):国家自然科学基金资助项目(60571010).
摘    要:用多靶射频磁控溅射系统在玻璃基片上制备了SmCo磁性薄膜。并采用控制变量法研究了溅射功率、溅射时间以及溅射气压等工艺参数对薄膜磁性能的影响。结果发现,当磁性层溅射功率为60W,溅射气压为0.5Pa,溅射时间为8min;底层溅射功率为125W,溅射气压为0.5Pa,溅射时间为4min时,薄膜的矫顽力高达2.79×10^5。底层对SmCo薄膜的磁性能也有影响,振动样品磁强计测量结果表明:相比Cr、Ti底层,以Cu作为底层所得到的SmCo薄膜磁性能更好,薄膜矫顽力分别比用Cr、Ti作底层时高出56%,40%。

关 键 词:磁控溅射 SmCo薄膜 控制变量法 矫顽力 Cu底层
文章编号:1001-9731(2007)增刊-1077-03
修稿时间:2007-04-13

Effect of sputtering parameters and underlayer on magnetic properties of SmCo thin films
ZHANG Feng, HUANG Zhi-xin, WANG Hui, WU Bin, YANG Xiao-fei, CHENG Wei-ming. Effect of sputtering parameters and underlayer on magnetic properties of SmCo thin films[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(A03): 1077-1079
Authors:ZHANG Feng   HUANG Zhi-xin   WANG Hui   WU Bin   YANG Xiao-fei   CHENG Wei-ming
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering   SmCo thin film   parameter control method   coercivity   Cu underlayer
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