首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

高度(100)取向PLT/PZT多层铁电薄膜的制备与性能研究
引用本文:吴家刚,朱基亮,肖定全,朱建国,谭浚哲,张青磊.高度(100)取向PLT/PZT多层铁电薄膜的制备与性能研究[J].功能材料,2007,38(A02):779-781.
作者姓名:吴家刚  朱基亮  肖定全  朱建国  谭浚哲  张青磊
作者单位:四川大学材料科学与工程学院,四川成都610064
基金项目:国家自然科学基金重点资助项目(50132020);国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(Z0601).
摘    要:利用射频磁控溅射技术,以PbOx为过渡层,在Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100)衬底上,采用原位溅射技术制备了高度(100)取向的(Pb0.90La0.10)Ti0.975O3/Pb(Zr0.20Ti0.80)O3]n(n=1,2){筒记为PLT/PZT]。)多层铁电薄膜,研究了层数对多层铁电薄膜介电性能和铁电性能的影响。研究得出,(100)取向的PbOx,过渡层导致了PLT/PZT]。多层铁电薄膜的(100)择优取向;高度(100)择优取向的PLT/PZT]2薄膜具有更大的剩余极(2Pr=31.45μC/cm)和更好的“蝴蝶”状C-V曲线。这些研究结果表明,所制备的(100)取向的PLT/PZT]2多层铁电薄膜具有优良的铁电性能。

关 键 词:PLT/PZT  多层铁电薄膜  磁控溅射  (100)取向  电学性质
文章编号:1001-9731(2007)增刊-0779-03
修稿时间:2007-07-27
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号