La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的制备及其电学性能 |
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引用本文: | 张利文,丁铁柱,王强,姜涛.La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的制备及其电学性能[J].功能材料,2007,38(A02):551-553. |
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作者姓名: | 张利文 丁铁柱 王强 姜涛 |
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作者单位: | 内蒙古大学理工学院物理系,内蒙古呼和浩特010021 |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目(10464001). |
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摘 要: | 采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆(YSZ)和SiO2衬底上溅射<薄膜,测试了不同工艺制备的La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜样品的XRD谱和电导率。分析了薄膜表面微结构以及电学性能。结果表明:在YSZ衬底上生长的La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜随着热处理温度的升高取向增强,当薄膜经过750℃热处理后结晶度最好;各样品直流电导率在低温段的Arrhenius曲线近似为直线,表明材料的导电行为符合小极化子导电机制;交流电导率在低频段(<100kHz)电导率主要是靠晶界导电贡献的,而在高频区(>100kHz),样品对交流电响应更加明显,电导率主要是靠晶粒导电贡献的。
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关 键 词: | La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜 XRD 电导率 |
文章编号: | 1001-9731(2007)增刊-0551-03 |
修稿时间: | 2007-01-12 |
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