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退火气氛对Al-F共掺杂ZnO透明导电薄膜性能的影响
引用本文:周丽萍 呂珺 汪冬梅 陈雯雯 吴玉程 郑治祥. 退火气氛对Al-F共掺杂ZnO透明导电薄膜性能的影响[J]. 功能材料, 2007, 38(A02): 536-538
作者姓名:周丽萍 呂珺 汪冬梅 陈雯雯 吴玉程 郑治祥
作者单位:合肥工业大学材料科学与工程学院,安徽合肥230009
基金项目:合肥工业大学中青年科技创新群体专项资助(103-037016).
摘    要:通过溶胶.凝胶法,采用Al、F共掺杂的方法在4种不同的气氛下制备ZnO薄膜,研究了薄膜的晶体结构、表面形貌、电阻率和透光性随退火气氛的变化关系.制备的Al:F:ZnO薄膜是具有六角纤锌矿结构的多晶薄膜.4种退火气氛相比,在空气气氛下退火时,平均晶粒尺寸最大,为43.4nm,导电性能最好,电阻率可低达6.5×10^-2Ω·cm。4种退火气氛下,薄膜在可见光范围内的平均透过率均达到了75%以上,其中,空气气氛下退火时薄膜的透光性最好。

关 键 词:ZnO薄膜 Al F共掺杂 溶胶-凝胶 退火气氛
文章编号:1001-9731(2007)增刊-0536-03
修稿时间:2007-06-12

Influence of annealling ambiences on properties of AI-F co-doped ZnO thin films
ZHOU Li-ping, Lti Jun, WANG Dong-mei, CHEN Wen-wen, WU Yu-cheng, ZHENG Zhi-xiang. Influence of annealling ambiences on properties of AI-F co-doped ZnO thin films[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(A02): 536-538
Authors:ZHOU Li-ping   Lti Jun   WANG Dong-mei   CHEN Wen-wen   WU Yu-cheng   ZHENG Zhi-xiang
Affiliation:School of Materials Science and Engineering, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China
Abstract:
Keywords:ZnO thin films   AI-F co-doping   sol-gel process   anneaUing ambiences
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