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真空热处理制备β-FeSi2光电薄膜的研究
引用本文:沈鸿烈,高超,黄海宾.真空热处理制备β-FeSi2光电薄膜的研究[J].功能材料,2007,38(A01):370-372.
作者姓名:沈鸿烈  高超  黄海宾
作者单位:南京航空航天大学材料科学与技术学院,江苏南京210016
基金项目:基金项目;国家高技术研究发展计划(863计划)资助项目(2006AA032219)
摘    要:磁控溅射法沉积的Fe/Si多层膜和Fe单层膜经真空热处理后制备了β-FeSi2薄膜。Fe1nm/Si3.2nm]60多层膜在〈880℃温度下真空热处理2h后,样品均呈现β(220)/(202)择优取向,而Fe单层膜制备的样品则易形成β-FeSi2与ε-FeSi相的混合物,且取向杂乱。在920℃真空热处理后,两种样品都形成了α-FeSi2薄膜。原子力显微镜分析表明,样品表面粗糙度随热处理温度升高而变大,最大表面均方根粗糙度约为16nm。卢瑟福背散射分析发现,Fe/Si多层膜样品热处理过程中元素再分布很小。根据光吸收谱测量,Fe/Si多层膜制备的β-Fesi2薄膜的禁带宽度为0.88eV。

关 键 词:光电薄膜  β-FeSi2  真空热处理  磁控溅射
文章编号:1001-9731(2007)增刊-0370-03
修稿时间:2007-05-05
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