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HfO2薄膜的制备与光学性能
引用本文:刘文婷 刘正堂 许宁 鹿芹芹 闫锋. HfO2薄膜的制备与光学性能[J]. 功能材料, 2007, 38(A01): 309-311
作者姓名:刘文婷 刘正堂 许宁 鹿芹芹 闫锋
作者单位:西北工业大学材料学院,陕西西安710072
基金项目:基金项目:航空科学基金资助项目(04G53043)
摘    要:采用射频磁控反应溅射法,以高纯热压HfO2陶瓷为靶材,在Si衬底上成功制备出HfO2薄膜。系统研究了工艺参数对薄膜沉积速率的影响规律,并对薄膜的光学性能进行了研究。结果表明,射频功率对薄膜沉积速率的影响最为明显,O2/Ar流量比和衬底温度对沉积速率的作用不明显,所制备薄膜的折射率较高在近红外波段趋于1.95,在500-1650nm波段范围内薄膜几乎无吸收,透过率较高。

关 键 词:磁控反应溅射 HfO2薄膜 沉积速率 光学性能
文章编号:1001-9731(2007)增刊-0309-03
修稿时间:2007-04-29

Preparation and optical properties of HfO2 thin films
LIU Wen-ting, LIU Zheng-tang, XU Ning, LU Qin-qin, YAN Feng. Preparation and optical properties of HfO2 thin films[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(A01): 309-311
Authors:LIU Wen-ting   LIU Zheng-tang   XU Ning   LU Qin-qin   YAN Feng
Abstract:
Keywords:reactive magnetron sputtering   HfO2 thin films   deposition rate   optical properties
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