首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

微晶/非晶Si∶ C∶ H半导体多层膜的结构研究
引用本文:王洪涛,冯良桓,徐明.微晶/非晶Si∶ C∶ H半导体多层膜的结构研究[J].电子显微学报,1997(4).
作者姓名:王洪涛  冯良桓  徐明
作者单位:四川联合大学材料系
摘    要:采用普通辉光放电分解硅烷的方法,沉积了具有交替微晶和非晶Si∶C∶H亚层的多层膜样品。从喇曼散射结果分析,样品具有明显的微晶和非晶两相结构;在低角度X射线衍射谱中,观察到了多级的衍射峰,证明了多层结构的存在

关 键 词:非晶半导体  多层膜结构  低角度X射线衍射
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号