首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

气体放电伏安特性正反欧姆区间对TiN薄膜微观结构及性能的影响
引用本文:郝娟.气体放电伏安特性正反欧姆区间对TiN薄膜微观结构及性能的影响[J].稀有金属材料与工程,2016,45(9):2439-2443.
作者姓名:郝娟
作者单位:西安理工大学
基金项目:国家自然科学基金资助(项目号51271144)
摘    要:采用脉冲控制模式将气体放电伏安特性由磁控溅射离子镀的“正欧姆” 区间引入到“反欧姆”区间,并在不同靶电流密度下制备了TiN薄膜。研究了正反欧姆区间对薄膜微观结构及性能的影响。结果表明:在靶电流密度(Itd)大于0.2A?cm-2的反欧姆区间,薄膜具有良好的表面质量和致密程度;且薄膜的硬度和膜基结合强度分别由正欧姆区间Itd为0.11A?cm-2的18.9GPa、4.5N提升到反欧姆区间Itd为0.38 A?cm-2的25.8GPa、18N。

关 键 词:反欧姆区  靶电流密度  TiN薄膜  离化率
收稿时间:2014/7/27 0:00:00
修稿时间:2014/9/17 0:00:00

Influence of positive-Ohm and anti-Ohm sections of gas discharge volt-ampere characteristic on microstructure and properties
haojuan.Influence of positive-Ohm and anti-Ohm sections of gas discharge volt-ampere characteristic on microstructure and properties[J].Rare Metal Materials and Engineering,2016,45(9):2439-2443.
Authors:haojuan
Affiliation:Xi''an University of Technology
Abstract:
Keywords:Anti-ohm section  Target current density  TiN films  Ionization rate
点击此处可从《稀有金属材料与工程》浏览原始摘要信息
点击此处可从《稀有金属材料与工程》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号