| 改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计 |
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| 引用本文： | 李春伟,何振中,陈新武. 改进的基于STUMPS架构的BIST电路设计[J]. 电气电子教学学报, 2007, 29(2): 63-66 |
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| 作者姓名： | 李春伟 何振中 陈新武 |
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| 作者单位： | 1. 宁夏大学,物理电气信息学院,宁夏,银川,750021
2. 华中科技大学,多谱信息处理技术国防重点实验室,湖北,武汉,430074 |
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| 摘 要： | 传统的STUMPS测试方法,存在测试时间长和故障覆盖率不够高的缺点.为减少测试时间,采用Test-Per-Clock方式和向量压缩的方法处理待测电路CUT;减少了测试时间;用随机测试模式加存储测试模式,来提高故障覆盖率.经ISCAS'85标准测试电路验证,新方案取得了令人满意的结果.
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| 关 键 词： | 可测性设计 内建自测试 Test-Per-Clock 测试向量压缩 |
| 文章编号： | 1008-0686（2007）02-0063-04 |
| 收稿时间： | 2006-12-28 |
| 修稿时间： | 2007-02-07 |
Improved Circuit Design of BIST Based on STUMPS |
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| LI Chun-wei,HE Zhen-zhong,CHEN Xin-wu. Improved Circuit Design of BIST Based on STUMPS[J]. Journal of Electrical & Electronic Engineering Education, 2007, 29(2): 63-66 |
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| Authors: | LI Chun-wei HE Zhen-zhong CHEN Xin-wu |
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| Abstract: | Conventional STUMPS spends much time for testing,and its fault coverage is not high enough.To reduce the testing time,a modified structure which tests the CUT with Test-Per-Clock and test-vector compression is proposed.To improve the fault coverage,storage-mode is added to LFSR-mode.Experiments on ISCAS'85 benchmark circuits show that the scheme is satisfied. |
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| Keywords: | DFT BIST Test-Per-Clock test-vector compression |
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