| FPGA中宽边译码器的测试方法研究 |
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| 引用本文： | 廖永波,李平,阮爱武,李文昌,李威. FPGA中宽边译码器的测试方法研究[J]. 仪器仪表学报, 2010, 31(7) |
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| 作者姓名： | 廖永波 李平 阮爱武 李文昌 李威 |
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| 作者单位： | 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054 |
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| 摘 要： | 现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilinx公司的XC4000E系列芯片,在基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统中进行测试。实验结果表明,用本文提出的4次配置图形和测试向量能够完成全覆盖测试。
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| 关 键 词： | 宽边译码器 测试方法 配置图形 测试向量 |
Test scheme for wide edge decoder in FPGA |
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| Liao Yongbo,Li Ping,Ruan Aiwu,Li Wenchang,Li Wei. Test scheme for wide edge decoder in FPGA[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2010, 31(7) |
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| Authors: | Liao Yongbo Li Ping Ruan Aiwu Li Wenchang Li Wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | FPGA |
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