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基于集成芯片热模式的PCB电子电路故障诊断方法
引用本文:陈彬,于盛林.基于集成芯片热模式的PCB电子电路故障诊断方法[J].计算机与数字工程,2005,33(1):73-76.
作者姓名:陈彬  于盛林
作者单位:南京航空航天大学自动化学院,南京,210016
摘    要:本文提出了电子电路故障诊断的一种新方法,以集成芯片热模式为出发点,利用红外测温传感器对电子电路中集成芯片温度进行有效的非接触测量,建立集成芯片工作温度标准热模式(WTSTM),并对电路板芯片若干故障现象进行试验。将实验结果与WTSTM进行比较分析,采用模糊推理算法确定传感器测量值对各诊断元件的隶属度函数,并根据隶属度来确定故障元件。论证了该方法的可行性和有效性。

关 键 词:红外测温  集成芯片温度  模糊方法  故障诊断
修稿时间:2004年5月22日

Circuit Fault Diagnosis based on IC Thermal Mode
Chen Bin,Yu Shenglin.Circuit Fault Diagnosis based on IC Thermal Mode[J].Computer and Digital Engineering,2005,33(1):73-76.
Authors:Chen Bin  Yu Shenglin
Abstract:The paper introduces a new method of circuit fault diagnosis. Based on the IC thermal mode, by use of infrared temperature sensor to measure the temperature of circuit component, an IC working temperature standard thermal mode ( WTSTM ) is gotten. By the measurement of several faults of circuit components and comparing the experiments' result with WTSTM , and using fuzzy method to get the member function , it shows that the fault diagnosis of circuit component based on IC thermal mode is feasible.
Keywords:infrared temperature testing  IC temperature  fuzzy method  fault diagnosis
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