| 基于BP神经网络的电子元器件寿命预测 |
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| 引用本文： | 邹心遥,姚若河. 基于BP神经网络的电子元器件寿命预测[J]. 微电子学与计算机, 2009, 26(1) |
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| 作者姓名： | 邹心遥 姚若河 |
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| 作者单位： | 华南理工大学 电子与信息学院,广东 广州,510640 |
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| 摘 要： | 电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.
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| 关 键 词： | BP神经网络 寿命预测 电子元器件 MOS电容 |
Lifetime Prediction of Electronic Devices Based on Forecast System of Back Propagation Neural Network |
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| ZOU Xin-yao,YAO Ruo-he. Lifetime Prediction of Electronic Devices Based on Forecast System of Back Propagation Neural Network[J]. Microelectronics & Computer, 2009, 26(1) |
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| Authors: | ZOU Xin-yao YAO Ruo-he |
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