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利用CASTEP计算载流子有效质量的可靠性分析
引用本文:王胜楠,毛启楠,袁倩敏,李鹤,季振国. 利用CASTEP计算载流子有效质量的可靠性分析[J]. 材料科学与工程学报, 2016, 0(5)
作者姓名:王胜楠  毛启楠  袁倩敏  李鹤  季振国
作者单位:杭州电子科技大学,材料与环境工程学院,浙江杭州 310018
基金项目:国家自然科学基金资助项目(61372025)
摘    要:基于第一性原理,在密度泛函理论(DFT)框架下,采用广义梯度近似(GGA)进行校正,利用超软赝势(USPP)代替离子势,计算了几种典型的半导体材料,包括金刚石结构的C、Si、Ge,闪锌矿结构的GaAs、GaP、InP、CdTe、CdS和纤锌矿结构的GaN、ZnO半导体材料的能带结构。结合半导体材料的载流子有效质量计算公式,对能带极值附近点进行拟合,得到了有效质量的理论计算结果,并对计算结果的可靠性进行了讨论。通过与实验数据的对比,计算结果显示了较好的一致性。

关 键 词:第一性原理  能带结构  有效质量

Research on Reliability of Effective Mass Calculation by CASTEP
WANG Sheng-nan,MAO Qi-nan,YUAN Qian-min,LI He,JI Zhen-guo. Research on Reliability of Effective Mass Calculation by CASTEP[J]. Journal of Materials Science and Engineering, 2016, 0(5)
Authors:WANG Sheng-nan  MAO Qi-nan  YUAN Qian-min  LI He  JI Zhen-guo
Abstract:
Keywords:first principles  band structure  effective mass
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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