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低辐射膜系中(Al,Ti)N薄膜的研究
引用本文:仝玉莲,时方晓.低辐射膜系中(Al,Ti)N薄膜的研究[J].材料与冶金学报,2016(4):298-303.
作者姓名:仝玉莲  时方晓
作者单位:沈阳建筑大学材料科学与工程学院,沈阳,110168
基金项目:辽宁省科技计划项目(2011222005)
摘    要:以制备出性能优异成本低廉的低辐射镀膜玻璃为目的.通过直流磁控反应溅射技术在玻璃(或单晶硅)表面制备(Al,Ti)N薄膜作为低辐射镀膜玻璃的内层介质层,在此基础上进行单因素变量分析铝靶功率、钛靶功率、氮气流量和溅射时间对薄膜可见光透过率、表面粗糙度的影响以及测定最优条件下薄膜的结晶状态、表面形貌和元素含量.结果表明,当铝靶功率为100 W、钛靶功率为80 W、氮气流量为2.5 ml/min、溅射时间为90 min时可见光范围内透过率均在96%以上,表面粗糙度11.3 nm,膜基结合力强,膜质优异适宜低辐射镀膜玻璃功能膜的附着.

关 键 词:建筑  低辐射镀膜玻璃  直流反应溅射  (Al  Ti)N薄膜

(Al,Ti) N film in low emissivity films
Tong Yulian,Shi Fangxiao.(Al,Ti) N film in low emissivity films[J].Journal of Materials and Metallurgy,2016(4):298-303.
Authors:Tong Yulian  Shi Fangxiao
Abstract:
Keywords:building  low-e glass  DC reactive sputtering  (Al  Ti) N thin film
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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