| 一种电子产品老化测试系统的设计与实现 |
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| 引用本文： | 张冰.一种电子产品老化测试系统的设计与实现[J].工业控制计算机,2007,20(8):13-14. |
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| 作者姓名： | 张冰 |
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| 作者单位： | 深圳大学信息工程学院,广东,深圳,518060 |
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| 摘 要： | 针对电子产品的可靠性问题,设计并实现了以单片机MSP430为核心的基于RS485总线的PC测试数据处理端、上位机测试过程监控端和下位机产品工作流程测试端的三级电子产品老化测试系统,并对各级测控节点的软硬件设计及测试实现方法作了介绍.该系统可用于实现电子产品功能和性能的在线老化测试,自动检测出产品元器件故障和生产工艺造成的隐藏缺陷,为改进生产工艺和提高产品质量提供决策.目前该系统已应用于智能电子锁的老化测试中.
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| 关 键 词： | 老化测试系统 RS485总线 单片机 |
| 修稿时间： | 2007-01-08 |
Design and Implementation of an Electronic Product Burn-in Test System |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | burn-in test system RS485 bus microcontroller |
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