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辐照对BESⅢ束流管支撑法兰材料断纹剪切性能影响的研究
引用本文:郑莉芳,纪全,王立,吴平,李勋锋,刘璇.辐照对BESⅢ束流管支撑法兰材料断纹剪切性能影响的研究[J].核电子学与探测技术,2007,27(2):219-222.
作者姓名:郑莉芳  纪全  王立  吴平  李勋锋  刘璇
作者单位:北京科技大学,北京,100083;中国科学院高能物理研究所,北京,100049;中国科学院高能物理研究所,北京,100049;北京科技大学,北京,100083
摘    要:BESⅢ中束流管(BMP)支撑法兰的备选材料G10玻璃布/环氧层压板经104 Gy的γ辐照和4.068×1018 m -2的中子辐照后,对其断纹剪切性能的变化进行了研究,并利用扫描电镜(SEM)对断口形貌进行分析.结果表明,经γ辐照和中子辐照后,G10玻璃布/环氧层压板的断纹剪切强度有所降低,但仍能满足BEPCⅡ的工程应用要求.

关 键 词:BESⅢ  G10玻璃布/环氧层压板  γ中子  辐照  剪切
文章编号:0258-0934(2007)02-0219-04
修稿时间:2006年11月26
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