| 数字IC芯片的检测方与诊断技术 |
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| 引用本文： | 赵建超,王伟,吕俊霞.数字IC芯片的检测方与诊断技术[J].电子技术,2007,34(11):195-197. |
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| 作者姓名： | 赵建超 王伟 吕俊霞 |
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| 作者单位： | 1. 河南工业职业技术学院计算机工程系
2. 河南工业职业技术学院电气工程系 |
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| 摘 要： | 在采用数字电路的各种设备中,数字IC的应用很广.那么,正确的检测数字IC芯片的性能,诊断数字集成电路的故障所在,就显得比较重要.
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| 关 键 词： | 集成电路 IC芯片 故障 检测 诊断 |
The examination square of the numerical IC chip and the diagnosis technique |
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| Zhao-Jianchao,Wang-wei,Lv Jun-xia.The examination square of the numerical IC chip and the diagnosis technique[J].Electronic Technology,2007,34(11):195-197. |
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| Authors: | Zhao-Jianchao Wang-wei Lv Jun-xia |
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