晶体生长与品质鉴定

本文列举了晶体生长中常见的不完整性,如开裂、包裹物、生长分层、色心、晶体整体上的不均匀性、组分过冷等。讨论了这些缺陷的起因和克服办法,以及生长与品质鉴定工作之间的关系,着重讨论了组分过冷现象的实例。强调指出,为克服这些缺陷,晶体生长与品质鉴定工作必须密切结合起来才能卓有成效。