| 二氧化钒纳米线相变过程中的偏折现象研究 |
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| 引用本文： | 丁文强,张振华,郭振玺,隋曼龄. 二氧化钒纳米线相变过程中的偏折现象研究[J]. 电子显微学报, 2014, 33(5) |
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| 作者姓名： | 丁文强 张振华 郭振玺 隋曼龄 |
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| 作者单位： | 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京,100124 |
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| 基金项目： | 教育部长江学者奖励计划，北京市人才强教资助项目 |
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| 摘 要： | 通过真空气相凝聚法制备了单晶二氧化钒纳米线,利用SEM和TEM对纳米线的形貌和结构进行了表征,并确定了其在硅基底上的生长状态。在透射电镜下的原位加热实验中,发现经过可控形核处理的二氧化钒纳米线在相变之后会出现宏观上的偏折现象,经过进一步的实验和计算,发现是由不垂直于纳米线轴向的相界面所诱发的应力不对称导致的偏折。在光学显微镜下受基底束缚的纳米线的原位加热实验也证实了这一观点。
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| 关 键 词： | 二氧化钒纳米线 原位加热 金属绝缘体相变 偏折 |
The study of the buckling phenomenon in the metal insulator transition process of vanadium dioxide nanowires |
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| DING Wen-qiang,ZHANG Zhen-hua,GUO Zhen-xi,SUI Man-ling. The study of the buckling phenomenon in the metal insulator transition process of vanadium dioxide nanowires[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2014, 33(5) |
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| Authors: | DING Wen-qiang ZHANG Zhen-hua GUO Zhen-xi SUI Man-ling |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | VO2 nanowires in-situ heating MIT buckling |
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