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| 新架构SRAM消除"软错误"威胁 | |
| 摘 要： | 意法半导体(ST)宣称其所开发的rSRAM技术将在不过多增加芯片制造成本的前提下,有效消除嵌入式SRAM"软错误"对于电子设备可能造成的不良影响. |
Re-structured SRAM eliminates soft-error related threats |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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