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半固化片表面质量分析
引用本文:符传锋.半固化片表面质量分析[J].印制电路信息,2003(12):41-41,44.
作者姓名:符传锋
作者单位:深圳太平洋绝缘材料有限公司,518052
摘    要:本文阐述了半固化片的表面质量,重点介绍了半固化片表面缺陷产生的原因,并论述了如何控制这些缺陷。

关 键 词:半固化片  缺陷
修稿时间:2003年9月14日

Quality Analysis of Prepreg Surface
Fu Chuanfeng.Quality Analysis of Prepreg Surface[J].Printed Circuit Information,2003(12):41-41,44.
Authors:Fu Chuanfeng
Affiliation:Fu Chuanfeng
Abstract:This paper describe the defect of prepreg and give an emphasis introduction the defect engender of reasons and how to control this defect
Keywords:prepreg defect
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