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半固化片表面质量分析
引用本文:符传锋. 半固化片表面质量分析[J]. 印制电路信息, 2003, 0(12): 41-41,44
作者姓名:符传锋
作者单位:深圳太平洋绝缘材料有限公司,518052
摘    要:本文阐述了半固化片的表面质量,重点介绍了半固化片表面缺陷产生的原因,并论述了如何控制这些缺陷。

关 键 词:半固化片  缺陷
修稿时间:2003-09-14

Quality Analysis of Prepreg Surface
Fu Chuanfeng. Quality Analysis of Prepreg Surface[J]. Printed Circuit Information, 2003, 0(12): 41-41,44
Authors:Fu Chuanfeng
Affiliation:Fu Chuanfeng
Abstract:This paper describe the defect of prepreg and give an emphasis introduction the defect engender of reasons and how to control this defect
Keywords:prepreg defect
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