在JT—60U装置上的快粒子实验

本文介绍了在JT－60U装置上的快粒子实验结果。快粒子是通过ICRF加热和基于负离子的中性束注入（N－NBI）加热产生的。两种加热系统激发了阿尔芬本征模（AE），在锯齿致稳实验中，常用ICRF激发的AE摄取等离子体中心的磁安全分布信息，将这些测量结果与动态斯塔克（谱线磁裂）效应测量结果及锯齿模型作了比较，还给出了TAE径向模结构的首批测量结构，正如用X模反射仪系统测量的结果一样，当把N－NBI束注入到锯齿等离子体中时，观察到锯齿周期大幅增加，研究了注入N－NBI时，在阿尔芬频率范围内发现的猝发模，线性调频 稳态频率模，这些模式中的大多数，而非所有的模式，是阿阿尔芬速度变化的，从连续波开始并线性变化到环向阿尔芬本征模（TAE）间隙（一般为200ms) 的这样一组模可被认定为共振TAE，而另一组模则在阿尔芬连续波中以短脉冲（达20ms)出现。