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| 光无源器件偏振依赖损耗的测试方法 | |
| 引用本文： | 王恒飞,应承平,全治科.光无源器件偏振依赖损耗的测试方法[J].光子技术,2005(3):140-144. |
| 作者姓名： | 王恒飞 应承平 全治科 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第41研究所,青岛266555 |
| 摘 要： | 介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法，并对它们的优缺点进行了比较。 |
| 关 键 词： | 偏振依赖损耗 测试方法 光器件 光无源器件 损耗 偏振 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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