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| 嵌入式计算机并口用作电参数测试仪中数字I/O | |
| 引用本文： | 董希彦.嵌入式计算机并口用作电参数测试仪中数字I/O[J].电子产品世界,2006(14):92-93. |
| 作者姓名： | 董希彦 |
| 作者单位： | 西安威正电子科技有限公司 |
| 摘 要： | 本文介绍了电参数测试仪的工作原理,对嵌入式计算机并口做了详细剖析,并根据仪器设计特点,做了成本分析,给出了Borland C 3.1语言环境下采样模块MAX186与嵌入式计算机并口通讯的SPI接口读、写源程序. |
| 关 键 词： | 嵌入式计算机 电参数测试 SPI接口 数字I/O口 A/D转换 |
Parallel Port of Embedded Computer as Digital I/O in Power Tester |
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