| 双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究 |
| |
| 引用本文： | 郭伟,谢劲松,孙晓君,何晶靖,石均,姜德志. 双向可控硅不同象限触发方式可靠性探究[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2008, 26(5) |
| |
| 作者姓名： | 郭伟 谢劲松 孙晓君 何晶靖 石均 姜德志 |
| |
| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京,100083
2. 青岛海尔智能电子有限公司,山东,青岛,266072 |
| |
| 摘 要： | 针对双向可控硅在不同触发象限条件下的触发特性进行了实验研究，考察了可控硅在上述条件下的不同触发特性，明确了各种象限触发之间的特性差异，并重点通过对上述各种触发情况进行pspice建模，解释了实验中所观察到的可控硅在不同象限情况下存在触发特性差异的原因。为后续的不同象限触发对于可控硅的使用可靠性和寿命影响的研究提供了理论和试验依据。
|
| 关 键 词： | 可控硅 触发象限 电路仿真 失效 |
TRIAC Trigger Characteristics of Different Quadrants |
| |
| GUO Wei,XIE Jin-song,SUN Xiao-jun,HE Jing-jing,SHI Jun,JIANG De-zhi. TRIAC Trigger Characteristics of Different Quadrants[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2008, 26(5) |
| |
| Authors: | GUO Wei XIE Jin-song SUN Xiao-jun HE Jing-jing SHI Jun JIANG De-zhi |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
