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Ti—N多层膜的显微结构和压痕行为
引用本文:A.WAGENDRISTEL,黄荣芳,H.BANGERT,杨霞,吴立航,王海峰,H.PANGRATZ,P.SKALICKY.Ti—N多层膜的显微结构和压痕行为[J].金属学报,1992,28(7):78-84.
作者姓名:A.WAGENDRISTEL  黄荣芳  H.BANGERT  杨霞  吴立航  王海峰  H.PANGRATZ  P.SKALICKY
作者单位:维也纳工业大学应用和技术物理研究所,中国科学院金属研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所,维也纳工业大学应用和技术物理研究所 副研究员 沈阳 110015
摘    要:研究了Ti/TiN多层膜的显微结构,横截面试样的透射电镜研究和二次离子质谱深度分析均表明,该膜具有周期变化的多层结构,即:基体/FeTi/Ti/Ti_2N/TiN/Ti_2N/Ti/Ti_2N/TiN…Ti/Ti_2N/TiN.制备了压痕试样的断口试样,并用扫描电镜进行了观察.结果表明,多层硬膜在压痕试验时发生形变,出现压痕坑,在其周围形成材料堆积.随着所加载荷的增加,形变区扩大,越过膜/基界面进入基体,引起膜内的层间开裂和在膜/基界面上形成孔洞,研究结果表明,和单层TiN相比,Ti/TiN多层膜具有较好的韧性.

关 键 词:Ti-N多层膜  显微结构  压痕
收稿时间:1992-07-18
修稿时间:1992-07-18

MICROSTRUCTURE AND INDENTATION BEHAVIOUR OF MULTILAYER Ti-N FILM
WAGENDRISTEL A ,HUANG Rongfang ,BANGERT H,YANG Xia,WU Lihang,WANG Haifeng,PANGRATZ H,SKALICKY P.MICROSTRUCTURE AND INDENTATION BEHAVIOUR OF MULTILAYER Ti-N FILM[J].Acta Metallurgica Sinica,1992,28(7):78-84.
Authors:WAGENDRISTEL A  HUANG Rongfang  BANGERT H  YANG Xia  WU Lihang  WANG Haifeng  PANGRATZ H  SKALICKY P
Affiliation:WAGENDRISTEL A (Technische Universitat in Wien,Austria),HUANG Rongfang (Institute of Metal Research,Academia Sinica,Shenyang),BANGERT H,YANG Xia,WU Lihang,WANG Haifeng,PANGRATZ H,SKALICKY P (Technische Universitat in Wien,Austria)
Abstract:
Keywords:multilayer Ti-N film  microstructure  indentation  
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