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HDI板RCC料层孔壁爆裂原因分析和改善
引用本文:胡吉山. HDI板RCC料层孔壁爆裂原因分析和改善[J]. 印制电路信息, 2005, 0(5): 37-41
作者姓名:胡吉山
作者单位:至卓飞高线路板(深圳)有限公司,518067
摘    要:分析了HDI板生产中RCC料层出现孔壁爆裂的原因,同时给出了改善方法,并对此原因和改善方法进行了验证。

关 键 词:高密度互连  涂树脂铜箔  玻璃化温度  盲孔  通孔  孔壁爆裂

The Root Cause Analysis and Improvement Action on Hole Wall Crack Defect at RCC Position for HDI PCB
Hu Jishan. The Root Cause Analysis and Improvement Action on Hole Wall Crack Defect at RCC Position for HDI PCB[J]. Printed Circuit Information, 2005, 0(5): 37-41
Authors:Hu Jishan
Abstract:The paper show that one root cause of hole wall crack defect on HDI PCB, and verify this result by a series of experiment. And also the detail improvement actions are provided respectively for this defect.
Keywords:HDI RCC Tg blind hole through hole hole wall crack
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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