| 星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示研究 |
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| 引用本文： | 李强,高洁,刘伟鑫. 星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示研究[J]. 核技术, 2010, 33(11) |
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| 作者姓名： | 李强 高洁 刘伟鑫 |
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| 作者单位： | 上海航天技术研究院第509研究所,上海,200240;上海航天技术研究院第804研究所,上海,201109;上海航天技术研究院第808研究所,上海,201109 |
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| 摘 要： | 运用程序占空比概念,对星用微处理器动态和静态单粒子翻转率之间的关系进行了研究,实现了星用微处理器动态单粒子翻转率的预示。将星用微处理器在轨运行期间满足单粒子翻转指标要求的概率与单粒子翻转率和飞行寿命联系起来,探讨了器件级和系统级的星用微处理器抗单粒子翻转可靠性预示方法。
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| 关 键 词： | 星用微处理器 单粒子翻转率 程序占空比 抗单粒子翻转可靠性 |
An SEU reliability prediction method for microprocessors of space applications |
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| LI Qiang,GAO Jie,LIU Weixin. An SEU reliability prediction method for microprocessors of space applications[J]. Nuclear Techniques, 2010, 33(11) |
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| Authors: | LI Qiang GAO Jie LIU Weixin |
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