用电离室测定α衰变率的校正因素 |
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引用本文: | 乔盛忠,刘享军,滕以珍.用电离室测定α衰变率的校正因素[J].核电子学与探测技术,1985(3). |
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作者姓名: | 乔盛忠 刘享军 滕以珍 |
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作者单位: | 中国科学院原子能研究所
(乔盛忠,刘享军),中国科学院原子能研究所(滕以珍) |
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摘 要: | 目前用于测量α衰变率的方法主要有α-γ符合,-π计数,小立体角计数、液体闪 烁计数及电离室等测量装置。这些方法各有其优缺点。电离室作为一种经典而又可靠的设备,早已用于α放射性强度的相对及绝对测量。对于核素(特别是锕系元素核素)的α放射性的能量一般为4—9MeV。电离室对于这种能量范围的α粒子的探测效率是相同的。因此在这种情况下测量,电离室是十分方便和有利的。但对于高准确度的测
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关 键 词: | 栅网电离室 α-γ符合测量装置 α衰变率 校正因素 |
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