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退火处理对ITO表面特性及有机发光器件性能的影响
引用本文:仲飞,刘彭义,段光凤. 退火处理对ITO表面特性及有机发光器件性能的影响[J]. 液晶与显示, 2005, 20(6): 498-502
作者姓名:仲飞  刘彭义  段光凤
作者单位:暨南大学,物理系,广东,广州,510632
基金项目:广东省自然科学基金资助项目(No.021169)
摘    要:为了改善有机发光器件(OLEDs)的性能,在0~600℃不同温度下对ITO透明导电玻璃进行了退火处理。SEM观察到随退火温度的升高,ITO表面粗糙度增加;四探针电阻测试结果显示,在300℃以上温度退火后ITO表面电阻率有明显增加。用退火前后的ITO玻璃作为阳极制备了OLEDs,器件结构为ITO/TPD/Alq3/Al,比较器件的电流密度-电压特性曲线测试结果表明,ITO薄膜的热处理温度对OLEDs性能有显著的影响。

关 键 词:ITO  有机发光器件  退火  表面处理  性能
文章编号:1007-2780(2005)06-0498-05
修稿时间:2005-03-05

Influence of Annealing Treatment on ITO Surface and OLED Performances
ZHONG Fei,LIU Peng-yi,DUAN Guang-feng. Influence of Annealing Treatment on ITO Surface and OLED Performances[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2005, 20(6): 498-502
Authors:ZHONG Fei  LIU Peng-yi  DUAN Guang-feng
Abstract:
Keywords:ITO  OLED  annealing  surface treatment  performances
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