| CMOS集成电路功能测试方法及实现 |
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| 引用本文： | 陈琼,冯建农.CMOS集成电路功能测试方法及实现[J].电子测量技术,1998(1):19-22. |
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| 作者姓名： | 陈琼 冯建农 |
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| 作者单位： | 华南理工大学，华南理工大学 |
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| 摘 要： | 文中根据ＣＭＯＳ集成电路的特点，阐述了利用ＰＣ机进行ＣＭＯＳ集成电路功能测试，逻辑仿真及其系统实现方法，文中介绍的方法，可对各种通用，专用ＣＭＯＳ数字集成电路芯片及其应用电路，进行电路功能测试和逻辑仿真。
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| 关 键 词： | 检测技术 集成电路 CMOS |
The Method of Testing CMOS Digit IC |
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| Chen Qiong Feng Jiannong.The Method of Testing CMOS Digit IC[J].Electronic Measurement Technology,1998(1):19-22. |
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| Authors: | Chen Qiong Feng Jiannong |
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| Affiliation: | Chen Qiong Feng Jiannong |
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| Abstract: | The method of testing CMOS digit IC used for general or special purpose is stated. The hardware and software of the system are described. It can be used to test or simulate the function of CMOS IC & ASIC. |
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