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| 基于SURF的大尺寸表面疵病拼接暗场成像研究 | |
| 作者姓名： | 唐瑞苓 宋德林 黄伟 李璐璐 耿鹏武 |
| 作者单位： | 四川大学制造科学与工程学院,四川 成都,610065;成都国科海博信息技术股份有限公司,四川 成都,610213;中国工程物理研究院机械制造技术研究所,四川 绵阳,621000;空军驻雅安地区军事代表室,四川 雅安,625000 |
| 摘 要： | 表面疵病是衡量超精密加工表面完整性的重要指标之一。暗场成像是表面疵病检测的有力手段,但由于显微镜视场有限,难以进行全域缺陷检测,不能全面评价表面质量。提出选用SURF方法对子区域图像进行特征分析,对相邻子区域图像进行配准拼接,可以获得高质量的全域暗场图像。研究表明,SURF配准拼接具有良好的鲁棒性,而且计算速度较快,可实现超精密加工表面的全域疵病检测,具有很高的实用性。 |
| 关 键 词： | 表面疵病 暗场成像 图像拼接 SURF |
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