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CuCr50Te/Cu双层触头材料烧结变形的研究
引用本文:傅肃嘉,吴仲春,方敏,曾杰,陶应启.CuCr50Te/Cu双层触头材料烧结变形的研究[J].电工材料,2001(4):7-12.
作者姓名:傅肃嘉  吴仲春  方敏  曾杰  陶应启
作者单位:浙江省冶金研究院,杭州,310013
摘    要:本文通过对不同相对密度下Cu及CuCr50Te粉末压制材料在1050℃烧结时收缩率的测定,分析了CuCr50Te/Cu双层触头材料产生烧结变形的原因。通过选择适当的压制压力,减少Cu层与CuCr50Te层材料之间的烧结收缩率差别,解决了烧结变形问题。同时还提出了粉末压烧材料的相对密度与收缩率的经验关系方程,并根据实验结果进行了验证。

关 键 词:粉末冶金  双层材料  复合触头材料  烧结变形

Study On Sintering Defomation of CuCr50Te/Cu Double Layer Material
Fu Sujia,Wu Zhongchun,Fang Ming,Zeng Jie,Tao Yingqi.Study On Sintering Defomation of CuCr50Te/Cu Double Layer Material[J].Electrical Engineering Materials,2001(4):7-12.
Authors:Fu Sujia  Wu Zhongchun  Fang Ming  Zeng Jie  Tao Yingqi
Abstract:
Keywords:PM  double layer material  composite contact  sintering deformation
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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