| 自动测试设备的成本及方案分析 |
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| 引用本文： | Mark Underwood Jay Scolio. 自动测试设备的成本及方案分析[J]. 半导体技术, 2001, 26(9): 69-72 |
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| 作者姓名： | Mark Underwood Jay Scolio |
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| 作者单位： | Maxim集成产品公司 |
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| 摘 要： | 电子设备的测试方法多种多样，从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备（ATE）。本文重点讨论一种具有较高性价经的中等规模测试方案。
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| 关 键 词： | 自动测试设备 接口 系统设计 |
| 文章编号： | 1003-353(2001)09-0069-04 |
Automatic test equipment on a budget |
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| Mark Underwood,Jay Scolio. Automatic test equipment on a budget[J]. Semiconductor Technology, 2001, 26(9): 69-72 |
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| Authors: | Mark Underwood Jay Scolio |
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| Affiliation: | Maxim Integrated Products |
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| Abstract: | The complexity of electronic-device testing varies widely, ranging from the simplest type (manual testing ) to the most complex (large-scale automatic test equipment). This article focuses on a low-cost, high- performance medium-scale testing manner. |
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| Keywords: | test equipment interface system design |
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