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基于加速寿命试验的SLD可靠性预计模型研究
作者单位:;1.工业和信息化部电子第五研究所
摘    要:超辐射发光二极管(SLD)已广泛应用于航空、航天等多个领域,但其预计模型的缺失使得SLD的可靠性分析工作缺乏有效指导。本文基于SLD主要失效模式、失效机理以及典型诱发应力,构建SLD可靠性预计模型,开展加速寿命试验,利用性能退化可靠性评估技术、图估计、最优线性无偏估计等方法对试验数据进行分析处理,确定管芯预计模型参数,应用国内外已有耦合、热阻及制冷器可靠性预计技术,确定管芯耦合及组件预计模型系数的表征,从而完成SLD可靠性预计模型的建立,为SLD工程应用过程中的可靠性分析工作提供技术参考。

关 键 词:光学器件  超辐射发光二极管  可靠性  预计模型  加速寿命试验  性能退化

Research on reliability prediction model for SLD based on accelerated lifetime test
Abstract:
Keywords:
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