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| 第3届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议征文通知 | |
| 摘 要： | 继第1、2届多谱段图像处理与模式识别国际学术会议顺利召开之后,第3届SPIE多谱图像处理与模式识别国际学术会议计划于2003年10月14日~16日在北京举行.大会将为从事多谱图像处理与模式识别领域研究的专家、教授、工程技术人员和研究生提供一个相互学习和交流的国际性论坛,为了提高会议的学术水平,会议将特邀国内外知名专家就本学科的一些前沿作专题报告.大会工作语言为英语,会议论文集将由SPIE在美国印刷并正式出版,世界发行,欢迎大家积极投稿,参加会议. 一、征文范围(包括但不局限于) 1. 多谱图像获取(红外成像,微波成像,雷达和激光雷达… |
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