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回流温度对Sn-58Bi焊点显微组织及剪切强度的影响
作者姓名:范鹏  赵麦群  孙杰  孙聪明
作者单位:西安理工大学材料科学与工程学院
摘    要:利用金相显微镜、扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS)等手段,研究了回流温度对Sn-58Bi焊点显微组织及剪切强度的影响。结果表明:回流焊接后,Sn-58Bi/Cu钎焊接头的金属间化合物(IMC)层主要以Cu_6Sn_5相为主,IMC层厚度随回流温度的升高而增加。Sn-58Bi焊点剪切强度随回流温度的增加呈先增加后降低的趋势。IMC层过厚,将导致界面层脆性激增,产生裂纹,使剪切强度急速下降。回流温度在180℃~200℃范围内时,剪切强度最佳。

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