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| IC的测试方法 | |
| 引用本文： | 陈杰.IC的测试方法[J].家用电器,2001(6):49-50. |
| 作者姓名： | 陈杰 |
| 摘 要： | 电子技术的飞跃发展,使各种IC层出不穷,为使用提供了很大的选择余地,方便了各类电子产品的设计,但是,也为IC的检测和选购带来了一些新问题。 一、如何判断IC的好坏 判断IC的好坏,主要以其相关引脚的电压、在路电阻及实际功能是否正常为依据,必要时可用替代法验证其好坏。 二、集成电路的测试方法 通常有电压测试法、电阻测试法、电流测试法、干扰测试法、代替测试法,其中前两种是主要的。 1.电压测试法 这种方法主要是通过检测电路中有关测试点的工作电压来判断IC工作是否正常。可以用万用表直流电压挡的适 |
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