| 基于RTS噪声测量与参量的提取 |
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| 引用本文： | 陈晓娟,樊欣欣.基于RTS噪声测量与参量的提取[J].电力电子技术,2016(8):103-105. |
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| 作者姓名： | 陈晓娟 樊欣欣 |
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| 作者单位： | 1. 长春理工大学,电子信息工程学院,吉林长春130022;2. 东北电力大学,信息工程学院,吉林吉林132012 |
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| 基金项目： | National Natural Science Foundation of China(No.61271115) 国家自然科学基金(61271115) |
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| 摘 要： | RTS噪声是探测小尺寸器件缺陷的有效手段,是表征纳米MOSFET器件可靠性的重要敏感参数,为了能够准确测量RTS噪声并提取特征参量,设计了具有二级抑噪的低噪声偏置电路,采用双通道互谱测量法对RTS噪声进行测量.利用EMD处理非平稳噪声信号后对参量进行提取。实验结果表明,相同采样点时,参量提取的误差比传统方法减小30%。相同精度时,采样点仅为传统方法采样数目的1/10。
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| 关 键 词： | 噪声 互谱测量 特征参量 |
Based on the RTS Noise Measurement and Parameter Extraction |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | noise cross-spectral measurement feature parameters |
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