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基于相位差误差补偿的磁元件损耗测量法
引用本文:叶建盈,舒一展,汪晶慧,万威,李睿.基于相位差误差补偿的磁元件损耗测量法[J].电子元件与材料,2023(9):1136-1142.
作者姓名:叶建盈  舒一展  汪晶慧  万威  李睿
作者单位:1. 福建工程学院汽车电子与电驱动技术重点实验室;2. 福州大学电气工程与自动化学院
基金项目:国家自然科学基金(51777036);;福建省自然科学基金(2021J011081);;福建工程学院科研基金资助项目(GY-Z18179);
摘    要:准确评估磁元件损耗对高频功率变换器效率和热设计至关重要。交流功率法广泛用于低频领域的电气电子设备功率和元器件损耗的测量,该方法对电压和电流之间的相位差比较敏感,导致交流功率法在高频领域难以准确测量被测件的损耗。本文提出一种采用无感电阻进行相位差误差补偿的测量方法,克服了相位差的测量误差对高频磁元件损耗测量的影响。分析了测量方法的工作原理,通过求解无感电阻和磁元件损耗的测量公式以消除相位差导致的测量误差,得到新的磁元件损耗测量公式。进一步分析了新测量方法的影响因素,以降低其对测量结果的影响。最后,建立了一个测量平台,在1.2 MHz频率范围内正弦波激励工况下对两种磁元件进行损耗测量,并与阻抗测量法和量热法进行了对比。实验结果验证了提出的方法能够准确有效地测量高频磁元件的损耗。

关 键 词:磁元件  损耗  高频  测量  相位差
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